FISCHER X射線測厚儀 FISCHER XDL230

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

1. X 射線激發(fā)與探測

X 光管：鎢靶鈹窗口，三檔可調(diào)高壓 30kV / 40kV / 50kV，適配薄金、厚鎳、鉻、鋅等不同鍍層

探測器：正比計數(shù)管，高計數(shù)率，縮短單次測量時長

準(zhǔn)直器（標(biāo)配 φ0.3mm），可選：φ0.1mm、φ0.2mm、0.3×0.05mm 狹縫；最小測量光斑≈0.2mm，適配微小焊盤、觸點檢測

DCM 距離補償：測量距離 0–80mm，樣品高低不平、腔體深件無需反復(fù)對焦，厚度精度不受高度差影響

2. 樣品工作臺（XDL230 核心優(yōu)勢）

XY 手動移動平臺：行程 95×150mm，工作臺有效放置面積 420×450mm，可放置大板、多件批量樣品

Z 軸電動升降：行程 140mm，支持自動 / 手動對焦，最大樣品高度 140mm

C 型開口上掀式防護門，超長板材、異形件可直接伸入測量，無需拆件

定位系統(tǒng)：40–160 倍高清彩色 CCD 顯微攝像頭 + 十字刻度標(biāo)線、LED 環(huán)形光源、激光定位點，精準(zhǔn)鎖定微小測點

3. 整機物理參數(shù)

外形尺寸：570×760×650mm（寬 × 深 × 高）

整機重量：107kg

防護等級：IP40

供電：AC100–240V 50/60Hz，最大功率 120W（不含電腦）

工作環(huán)境：10–40℃，濕度≤95% 無凝露