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德國(guó)EPK測(cè)厚儀ElektroPhysik測(cè)厚儀型號(hào)介紹
2016-10-24
德國(guó)馬爾粗糙度儀Marsurf M400優(yōu)勢(shì)信息
2025-09-04
FISCHER X射線測(cè)厚儀 X-RAY XDLM237信息
2026-02-27
2025-06-16
2025-11-11
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產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2023-11-07訪 問(wèn) 量：1101
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現(xiàn)貨Mintest 2100測(cè)厚儀EPK德國(guó)原裝
可選探頭
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
文章鏈接：中國(guó)化工儀器網(wǎng) http://www.chem17.com/company_news/Detail/246525.html
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
德國(guó)EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
 | FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 |
 | FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 |
 | F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) |
 | F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 可用于較厚的覆層 |
 | F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 |
 | F10 0～10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
 | N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
 | N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 |
 | N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭， 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 |
 | N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
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